یک روش جدید در تولید تجربه آزمون مدارهای منطقی بوسیله الگوریتم ژنتیک
Publish place: 12th Annual Conference of Computer Society of Iran
Publish Year: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 2,352
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ACCSI12_126
تاریخ نمایه سازی: 23 دی 1386
Abstract:
با توجه به اهمیت آزمون در مدارهای منطقی تا کنون روشهای زیادی برای تولید یک تجربه آزمون با حداکثر پوشش خرابی ارائه شده است. در این مقاله یک روش جدید برای تولید الگوی آزمون مدارهای منطقی ترکیبی ارائه میشود که مبتنی بر شبیه سازی خرابی میباشد.روش جدید از یک الگوریتم ژنتیک برای یافتن بردارهای آزمون با قدرت تشخیص خرابی بالا استفاده میکند. سپس با استفاده از یک روش جدید دیگر از میان بردارهای آزمون حاصل از مرحله قبل یک تجربه آزمون را استخراج می- کند.
برتری این روش بر روش تولید تجربه تصادفی دستیابی به تضمین بالایی از صحت کار مدار و نسبت به روشهای حساس سازی مسیر مانند الگوریتمD مرتبه پایین تر الگوریتم آن میباشد. روش ارائه شده بر روی چندین مدار اعمال شده است و مقایسه نتایج با روش تولید تصادفی تجربه های آزمون در مقاله آورده شده است
Keywords:
Authors
مازیار پالهنگ
عضو هیات علمی دانشگاه، دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی برق و کا
پیروز شمسی نژاد بابکی
دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی برق و کا
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :