اندازه گیری همزمان ضخامت و ضریب شکست زیر لایه های کریستالی موجبر نوری
Publish place: 16th Iranian Conference on Electric Engineering
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,595
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICEE16_239
تاریخ نمایه سازی: 6 اسفند 1386
Abstract:
در ساخت ادوات نوری فعال مانند سوئیچ و مدولاتور نوری، موجبر بر روی زیر لایه کریستال الکترواپتیک ساخته می شود. شناخت مشخصه های زیر لایه در تعیین مشخصه های ادوات نوری ساخته شده، مؤثر است. در این مقاله با روش تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس، به طور همزمان ضریب شکست و ضخامت کریستال لیتیوم نایوبیت اندازه گیری شده است. در بیشتر روش های تداخل سنجی کمیت اندازه گیری شده، راه نوری یعنی حاصلضرب ضخامت و ضریب شکست نمونه است اما با تداخل سنجی با نور کوتاه همدوس، می توان همزمان ضریب شکست و ضخامت نمونه های اپتیکی را تعیین کرد. در اعیین مشخصه موجبر نوری به ویژه نمایه ضریب شکست، با این روش ضخامت و ضریب شکست زیر لایه موجبر با دقت بالایی تعیین می شود.
Keywords:
Authors
سید محمدرضا سادات حسینی
مرکز تحقیقات مخابرات ایران
احمد درودی
مرکز تحصیلات تکمیلی در علوم پایه زنجان و گروه فیزیک دانشگاه زنجان
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :