Atomic Force Microscope: Real Time Modeling, Control andSimulation
Publish place: 16th Iranian Conference on Electric Engineering
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,906
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICEE16_351
تاریخ نمایه سازی: 6 اسفند 1386
Abstract:
This paper develops a model and nonlinear control scheme for an atomic force microscope system and analyzes AFM real time behavior. For this reason first, the micro cantilever is modeled by the interaction between sample and cantilever with the Van der Waals attraction/repulsion force. Then a backstepping control algorithm is developed to achieve asymptotic cantilever tip tracking for bounded tip trajectories. Simulation results obtained confirm the effectiveness and validity of the proposed controller
Keywords:
Authors
Amir Farrokh Payam
University of Tehran
Morteza Fathipour
University of Tehran
M.J Yazdanpanah
University of Tehran
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :