بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن
عنوان مقاله: بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن
شناسه ملی مقاله: ISCEE11_118
منتشر شده در یازدهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران در سال 1387
شناسه ملی مقاله: ISCEE11_118
منتشر شده در یازدهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران در سال 1387
مشخصات نویسندگان مقاله:
غلامرضا لطیف شبگاهی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
رضا کردی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
عرفان علمدار - دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
خلاصه مقاله:
غلامرضا لطیف شبگاهی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
رضا کردی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
عرفان علمدار - دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
امروزه مدارات دیجیتال پیچیدهتر شدهاند و بایستی قبل از تولید انبوه این تراشهها از نحوة عملکرد صحیح آنها اطمینان حاصل نمود . بررسی اتلاف نیرو در طول زمان تست مهم میباشد زیرا نیروی تلف شده در فاز تست مدار از نیروی تلف شده در فاز عملیاتی مدار بیشتر است و این امر میتواند قابلیت اطمینان مدار تحت آزمایش را بدلیل دمای بالاتر و چگالی جریان کاهش دهد. درضمن بایستی این تجهیزات در برابر خطاهای احتمالی نیز تحمل پذیر باشند. ما به تکنیکهایی میپردازیم که میکوشند در زمان تست بخش ترتیبی ، با حذف یا به حداقل رساندن سوئیچینگ در بخش ترکیبی مدار اتلاف نیرو را به حداقل برسانند و نیز کوشیدهایم این روشها را از لحاظ مصرف نیرو ، تأخیر و تحملپذیری خطا بررسی کنیم .نتایج نشان میدهد که روش انسدادی مبتنی بر گیت NOR مصرف نیرو، تحمل پذیری ، NMOS و PMOS بیشترین مصرف نیرو ، تحملپذیری خطا و تأخیر را دارد و استفاده از ترانزیستور افزونه خطا و تأخیر متوسط را نشان میدهد و روشی که از تقسیمبندی زنجیرههای اسکن استفاده میکند کمترین مصرف نیرو ، تحملپذیری خطا و تأخیر را نشان میدهد که با توجه به کاربرد تراشه ، میتوان از این روشها در تراشه استفاده نمود.
کلمات کلیدی: DFT و SEU ،Latency ، Reliability ، fault tolerance
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/48791/