مهدی سامی شیراز - دانشکده فیزیک، دانشگاه شهید بهشتی تهران
غلامرضا جعفری - دانشکده فیزیک، دانشگاه شهید بهشتی تهران
هادی سامی شیراز - دانشکده فیزیک دانشگاه فرهنگیان علامه امینی تبریز

بررسی ظرفیت خازن در قطعات الکترونیک کامپیوتر موبایل یک مسئله بسیار مهم محسوب می شود و به دلیل زبر بودن سطح قطعات نانو مقیاس، مساحت موثر صفحهی زبر بیشتر میشود. و همچنین تجمع بار در نقاط تیز یک سطح منجر به ظهور اثرات خازنی در سطح زبر میشود. که ظرفیت آن از ظرفیت خازن معادلی با همان ابعاد و با سطوح صاف، بیشتر است این اثر با کوچک شدن قطعات بزرگتر می شود. همچنین ظرفیت خازن دو سطح زبر علاوه بر اینکه بر زبری سطح وابسته است به اثرهمبستگی متقابل دو سطح الکترود خازن هم وابسته است نتایج نشان می دهد همبستگی منفی اثر خازنی افزایش و در صورت همبستگی مثبت این اثر کاهش می یابد. و همچنین میدان الکتریکی دو سطح زبر کوپلاژ شده در مقایسه با فقط یک سطح زبر افزایش می یابد اما در مقایسه با دو سطح زبر مستقل با زبری مشابه کاهش می یابد

طول همبستگی،زیری سطح، اثر خازنی، رسانندگی الکتریکی