روشی جدید برای تخمین سریع و دقیق احتمال انتشار خطای نرم در مدارهای ترکیبی

تخمین نرخ رخداد و انتشار خطای نرم در مدارهای ترکیبی همواره به عنوان یکی از گام های اصلی و اولیه طراحیمدارهای مجتمع خیلی فشرده مقاوم در برابر خطا، مورد توجه طراحان بوده است به گونه ای که امروزه، روش های تعییننرخ خطای نرم، یکی از مباحث اصلی در این زمینه می باشد. با کوچکتر شدن روزافزون ابعاد ترانزیستورهای CMOS ،حساسیت مدارها در مقابل خطای نرم رو به افزایش است. مطالعات نشان داده که در فن آوری های زیر 100 نانومتر، ذراتپرانرژی پراکنده در فضا با برخورد به یک دروازه منطقی بیش از یک نقطه را تحت تاثیر قرار می دهند و سبب انتشار چندپالس اشکال در مدار ترکیبی می شوند. از اینرو، روشهای ارائه شده برای تخمین نرخ رخداد و انتشار خطای نرم درمدارهای ترکیبی که تا به امروز ارائه شده اند، عموما دارای دقت مطلوب نمی باشند. لذا، نیاز به ارائه روش های نوین با دقت وسرعت بالا در این عرصه احساس می شود. در این مقاله، روشی دقیق و سریع برای محاسبه ی نرخ انتشار خطای نرم درمدارهای ترکیبی با در نظر گرفتن تأثیر چندگانه ی برخورد ذرات، پوشش های ذاتی (پوشش الکتریکی، منطقی و زمانی وانتشار اشکال در سیکل های ساعت متوالی ارائه شده است. طبق شبیه سازی های انجام شده، نتایج حاصل از این روش تا98.3 درصد با روش مبتنی بر شبیه سازی مونتکارلو برابری کرده، در حالیکه، بیش از 900 برابر در زمان صرفه جویی شده است.

Keywords:

نرخ رخداد و انتشار خطای نرم , مقاوم سازی در مقابل خطای نرم , تأثیر چندگانه ی برخورد ذرات , پوشش الکتریکی , پوشش منطقی , پوشش زمانی