سعید مهرعلی پور - دانشگاه آزاد اسلامی واحد محلات
بهنام مددنیا - دانشگاه بوعلی سینا
سعید بیاتی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکز
دانیال سمیعی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد محلات

اندازه گیری یکی از مهم ترین اصول طراحی ، ساخت و کنترل کلیه ی فعالیت های بنیادی و مهندسی می باشد . در حال حاضر جهت اندازه گیری ابعاد نانومتری از میکروسکوپ ها و دستگاه های پیشرفته استفاده می شود . در این پژوهش با استفاده از کامپوزیت نانوالیاف و مواد پیزوالکتریک سنسوری حساس جهت تشخیص تغییرات در ابعاد نانومتری ساخته شد . مواد پیزوالکتریک با توجه به خاصیت ذاتی خود بعنوان عملگر و عامل حساسیت قرار داده شد . این مواد دارای راندمان پایینی هستند که با کامپوزیت کردن آنها توسط نانوالیاف پلی اورتان ( PU ) بطور قابل ملاحظه ای شاهد افزایش راندمان آنها بودیم . در این پژوهش سرامیک سرب زیرکونات تیتانیوم ( PZT ) ساخته شده را توسط روش کوچک سازی ابعاد مواد به پورسایز کمتر از 10 میکرومتر رساندیم و محلول پلیمری پلی اورتان تهیه شده را توسط کربن ناتیوب تقویت داده شد . محلول کامپوزیت تهیه شده توسط روش الکتروریسی ریسیده شد و تثبیت گردید . با استفاده از روش الکتروریسی مواد پیزوالکتریک و نانوالیاف دارای ساختاری منظم شدند و در یک راستا قرار گرفتند . کامپوزیت تهیه شده را توسط روش میکروسکوب نیروی اتمی (AFM) آنالیز نمودیم و نتایج حاکی از آن است که نمونه ی تهیه شده در مقابل تغییرات نانومتری ضخامت لایه ، تغییرات با معنی میلی آمپر جریان و میلی ولت ولتاژ خواهد داشت .

موادپیزوالکتریک – سرب زیرکونات تیتانیوم ( PZT ) – نانوالیاف پلی اورتان (PU ) - کربن نانوتیوب - نانوسنسور