CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی و شبیه سازی کاهش جریان نشتی گیت با کمک عایق نا متقارن ترکیبی با استفاده از دی الکتریک های AL2O3 و دی اکسید سیلیکان در ترانزیستورهای NMOS کانال کوتاه

عنوان مقاله: بررسی و شبیه سازی کاهش جریان نشتی گیت با کمک عایق نا متقارن ترکیبی با استفاده از دی الکتریک های AL2O3 و دی اکسید سیلیکان در ترانزیستورهای NMOS کانال کوتاه
شناسه ملی مقاله: RSTCONF02_119
منتشر شده در دومین کنفرانس بین المللی پژوهش در مهندسی، علوم و تکنولوژی در سال 1394
مشخصات نویسندگان مقاله:

خداداد خالق پناه - دانشجوی کارشناسی ارشد رشته مهندسی برق الکترونیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد سپیدان
شاپور گل بهارحقیقی - استادیار دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر دانشگاه شیراز و استاد مدعو دانشگاه آزاد اسلامی واحد سپیدان

خلاصه مقاله:
در این مقاله روشهای کاهش جریان نشتی گیت با استفاده از عایق و مواد دی الکتریک بصورت متقارن بشکل استک وپشته و همچنین بصورت سطح بندی شده و غیر متقارن مقایسه و شبیه سازی شده است ، استفاده از عایق ترکیبی بصورت سطح بندی و نامتقارن منجر به کاهش جریان نشتی گیت و بهبود زمان تأخیر گردیده است . کاهش توان نشتی و جریان نشتی گیت و جریان نشتی زیر آستانه در قالب نمودارهای HSPICE رسم شده و لایه های دی الکتریک با گذر دهی بالا در ساختار ترانزیستورهای NMOS تشریح شده است ، مؤلفه های جریان نشتی گیت در قالب نمودار ساختاری نشان داده شده ودر نهایت نتیجه گیری شده که در ساختار ترانزیستورهای نانو جریان نشتی گیت مؤلفه غالب بوده که با استفاده از روش دی الکتریک پشته ای بصورت غیر متقارن بین گیت و بدنه جریان نشتی مرکور بطور قابل توجهی کاهش داده می شود

کلمات کلیدی:
MOS ، NMOS ، BSIM4 ، اکسید گیت ، جریان نشتی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/508235/