محاسبه قابلیت اطمینان مبدلهای چند سطحی الکترونیک قدرت : تئوریها و کاربردها

Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 688

This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

NAECE01_090

تاریخ نمایه سازی: 26 شهریور 1395

Abstract:

مبدلهای چند سطحی از تجهیزات الکترونیک قدرت و راه اندازهای زیادی تشکیل شده اند، بنابراین موضوع قابلیت اطمینان این تجهیزات بسیار مهم برای این ساختارها میباشد. هرچند در محاسبه قابلیت اطمینان برخی از مبدلهای چند سطحه متقارن مثل مبدل X سطحی NPC فعال (ANPC) فرط براساس سلولهای کلیدزنی انباشته شده و با یک ضربه مرکزی اضافی در باس dc، در عملکرد تکفاز چندین عضو مازاد دیده میشود که میتوانند طوری مدیریت شوند که قابلیت اطمینان عمومی افزایش یابد. در این مراله، روش کلی و تئوری برای محاسبه نرخ شکست قابلیت اطمینان استفاده شده است و برای مقایسه با ساختار مبدل دو، سه، و پنج سطحی تکفاز به کار برده شده است.

Authors

محمد شادنام زربیل

دانشگاه تبریز

محسن حسن بابایی

دانشگاه تبریز

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • W.Wu, C. Fan, Y. Wang, and W. Cui, SSEM investigation ...
  • O. V. Thorsen and M. Dalva, _ survey of the ...
  • R. A. Hanna and , Prabhu, _ _ Me dium-voltage ...
  • manufacturers experiences, " IEEE Tran, Ind. Appl., vol. 33, no. ...
  • S. Yang, A. Bryant, P. Mawby, D. Xiang, L. Ran, ...
  • J. Rodriguez, P. Lezana, J. Pou, S. Ceballos, F. Richardeau, ...
  • S. Ceballos, J. Pou, E. Robles, J. Zaragoza, and J. ...
  • F. Richardeau, P. Baudesson, and T. Meynard, _ Fai lures-tolerance ...
  • C. Turpin, P. Baudesson, F. Richardeau, F. Forest, and T. ...
  • X. Kou, K. A. Corzine, and Y. L. Familiant, :A ...
  • F. Richardeau, Z. Dou, J.-M. Blaquiere, E. Sarraute, D. Flumian, ...
  • Recueil de donnees de fiabilite RDF 2000, UTE- C80-810, Jul. ...
  • 217Plus Handbook, RIAC, , Utica, NY, 2007, (based on MIL ...
  • M. T. Chao, J. C. Fu, and M. V. Koutras, ...
  • S. Iyer, "Distribution of time to failure of consecutive k-out-of-n: ...
  • R.L. A.Ribeirol, C. B. Jacobina, A. M. N. Lima, and ...
  • J. Mavier, F. Richardeau, H. Piquet, and G. Gateau, "Fault-tolerat ...
  • Power Electron. Appl. Conf., 1995, pp. 1033-1038 ...
  • T. H. Liu, J. R. Fu, and T. A. Lipo, ...
  • نمایش کامل مراجع