قاسم میرجلیلی - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر دانشگاه یزد
بابک کشاورزی - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر دانشگاه یزد
محمدتقی صادقی - دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر دانشگاه یزد

در این مقاله ، به بررسی و مقایسه کارایی چند روش خطی و غیر خطی مهم جهت استخراج ویژگی های چهره می پردازیم . بدن منظور از مجموعه های استاندارد YALE و AT&T استفاده شده است . جهت انجا م آزمایشات روی هر مجموعه ، دو استراتژی آزمایش تصادفی و همه به جز یکی به کار رفته است . دراین مقاله ، جهت طبقه بندی چهره از روش نزدیکترین همسایه استفاده می شود . نتایج نشان می دهند که بهترین روش خطی برای مجموعه AT&T ، روش چهره های ویژه و برای مجموعه YALE ،روش چهره های فیشر می باشد. به هر حال در روشهای خطی ، درصد خطای بازشناسی بالا است. در مورد روشهای غیر خطی ، خواهیم دید که عملکرد الگوریتم KFDA بهتر از سایر الگوریتم ها می باشد .

بازشناسی چهره، استخراج ویژگی‌ها، روش‌های خطی، روش‌های غیرخطی