CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی خواص اپتوالکترونی نانوسیم الماس رشد یافته در جهت صفحهی ( 111 ) با استفاده از نظریهی تابعی چگالی

عنوان مقاله: بررسی خواص اپتوالکترونی نانوسیم الماس رشد یافته در جهت صفحهی ( 111 ) با استفاده از نظریهی تابعی چگالی
شناسه ملی مقاله: SCMEMI13_197
منتشر شده در سیزدهمین همایش علمی دانشجویی مهندسی مواد و متالورژی ایران در سال 1395
مشخصات نویسندگان مقاله:

سیدمصطفی منوری - دانشجوی کارشناسی ارشد فیزیک ماده چگال،
فرح مرصوصی - استادیار و عضو هیئت علمی دانشگاه صنعتی امیرکبیر،

خلاصه مقاله:
در این مقاله تاثیرات اندازه و جهتگیری رشد بر خواص اپتوالکترونی نانوسیم الماس اشباع شده، به روش نظریهی تابعی چگالی و حل معادلهی کوهن-شم با در نظر گرفتن تقریب چگالی موضعی LDA بررسی شده است. نانوسیمها از نوع استوانهای بوده و سطح جانبی آنها توسط اتمهایهیدروژن، اشباع شده است. گافهای اپتیکی محاسبه شده بعلت بوجود آمدن ترازهای سطحی از گاف الماس حجیم، کوچکتر است. همچنینمشخص شد گافهای اپتیکی و چگالیحالات الکترونی نانوسیمهای رشد یافته در جهت صفحهی ) 111 ( به دلیل کاهش اثر حبس کوانتومی با افزایش اندازهی مقطع نانوسیم، کاهش مییابند

کلمات کلیدی:
نانوسیم الماس، نظریهی تابعی چگالی، گاف اپتیکی، حبس کوانتومی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/557837/