بررسی مورفولوژی نانوترکیب 3O2Al/Sn/La بعنوان جایگزین 2SiO در ترانزیستور، از طریق تصویر برداری SEM و طیف سنجی EDX
Publish place: The 13th scientific conference of students of material engineering and metallurgy of Iran
Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 589
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
SCMEMI13_202
تاریخ نمایه سازی: 6 بهمن 1395
Abstract:
با کوچک شدن ابعاد قطعات الکترونیکی به منظور افزایش بهره وری و کاهش اتلاف انرژی ، به کار بردن 2SiO به عنوان بستر نیمه رسانا دچار چالش هایی می شود ؛برای رفع این چالشها نانو کامپوزیت 3O2Al/Sn/La به عنوان جایگزینی مناسب برای 2SiO در گیتترایزیستورها تولید و بررسی شده است.در این مقاله ، مزایای استفاده از این نانو ترکیب را از دودیدگاه مختلف بررسی می کنیم.ابتدا تصاویرSEM ( Scanning Electron Microscopy ( و سپس طیف سنجی EDX .( Energy Dispersive X-ray ( را تحلیل می کنیم.بدین منظور تصویر برداری ها در دماهای متفاوتی انجام شده است تا تاثیر تغییرات دما بر نانوترکیب بصورت دقیق تری آشکار شود
Keywords:
Authors
مریم هاشمی
کارشناس ارشد و مدرس فیزیک
منصوره پادام
کارشناس ارشد و مدرس فیزیک
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :