بررسی اندازه و سایز سطح لحیم های مورد استفاده در صنعت میکروالکترونیک روی ترکیبات بین فلزی تشکیل شده در طی لحیم کاری بین لحیم Sn -4Ag -0/5Cu و سطح مسی غوطه ور شده در نقره

Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 545

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

BPJCEE01_128

تاریخ نمایه سازی: 6 اسفند 1395

Abstract:

اخیراً نقره به عنوان یک لایه الکتروشیمیایی رسوبی بر روی مس در صنعت میکروالکترونیک مورد توجه قرار گرفته است. برای رسوب دادن ذرات نقره بر روی مس، از آبکاری غوطه وری استفاده می شود. در این مقاله لحیم بدون سرب Sn-4Ag-0/5Cu در اندازه و سایزهای متنوع و مختلف مورد آزمایش قرار گرفته است که در اندازه های مختلف لحیم ها، سرعت انحلال متالوژی سطح بالا (TSM)، سنیتیک رشد ترکیبات بین فلزی متفاوت خواهد بود. تأثیر اندازه و حجم لحیم ها و منطقه پد و نسبت به این دوپارامتر (V/A) روی رشد و ضخامت IMC مورد تحقیق قرار گرفت. هر چقدر نسبت V/A بزرگتر باشد، ترکیب بین فلزی نازکتر می شود. در حالیکه هر چقدر این نسبت V/A کوچکتر باشد، لایه ی ترکیب بین فلزی بهتری مشخص می شود. بعد از پیرسازی در دمای 150 ˚C به مدت 2000 ساعت، مورفولوژی ترکیب میانی Cu6Sn5 از حالت دالبری به حالت صفحه ای و ضخیم تر تبدیل می شود. لایه ی دیگری بین فلزی نیز بعد از پیرسازی تشیکل می شود که Cu6Sn5 است. تکینک های مختلفی جهت شناسایی مواد استفاده شد که شامل میکروسکوپ نوری، تجزیه و تحلیل تصویری، میکروسکوپ الکترونی و X-Ray بود. از این روش ها، جهت اندازه گیری کمی ترکیب بین فلزات و اندازه گیری ضخامت و مورفولوژی استفاده گردید.

Authors

صفورا عشاقی

باشگاه پژوهشگران جوان و نخبگان - دانشگاه آزاد اسلامی

سید محمدرضا لقمانیان

دانشگاه آزاد اسلامی واحد مبارکه

نسا زمانی

موسسه آموزش عالی دانش پژوهان پیشرو

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Korhonen T. M. et al. (2000). Reactions of lead-free solders ...
  • _ M., Tu K. N. (2003). _ [6] Alam, M. ...
  • Gosh G., (2001) Acta mater. 49 2609-2624. ...
  • Yoon J. W., Jung S. B. (2008). Journal of Alloys ...
  • Huang, Z. F., Conway, P. P., Liu, C. Q., Thomson, ...
  • نمایش کامل مراجع