CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی

عنوان مقاله: عیب یابی توسط روش تصویر نگاری جریان گردابی مگنتو اپتیک و کاربردهای آن در صنایع هواپیما سازی
شناسه ملی مقاله: ICTINDT02_025
منتشر شده در دومین کنفرانس بین المللی بازرسی فنی و آزمون غیرمخرب در سال 1387
مشخصات نویسندگان مقاله:

مجید ترابی مقدم

خلاصه مقاله:
هدف از این مقاله آشنایی با روش جدید در حوزه آزمایش جریانهای گردابی (Eddy Current ) می باشد که به Magnetic optical Imaging یا MOI معروف می باشد ، MOI در واقع یک نوع تصویر برداری مگنتو اپتیکی از جریان های گردابی می باشد .توسط این روش می توان تصاویر واقعی و Real Time از آزمایش جریان های گردابی به دست آورد . با این روش می توان ترکهای خستگی (Fatigue Crack ) سطحی و زیر سطحی و خوردگی های (Corrosions) پنهان را در زیر لایه ها آشکار کرد . کاربرد عمده این روش در صنعت هواپیمایی در بازرسی عیوب زیر و پنهان را در زیر لایه ها آشکار کرد . کاربرد عمده این روش در صنعت هواپیمایی در بازرسی عیوب زیر و (Rives) و در ساختارهای fuselage و wing می باشد . با بهره گیری از این روش زمان بازرسی به یک دهم نسبت به روش ET کاهش می یابد . این روش به این گونه است که حضور عیب در منطقه ی تست باعث می شود که جریان های لایه ای صفحه ای از یکنواختی خارج گردند و باعث ایجاد مولفه میدان مغناطیسی عمود برسطح قطعه گردند. این مولفه عمودی میدان مغناطیسی با استفاده از اثر فارادی و با استفاده از سنسور مگنتو اپتیک قابل مشاهده می باشد .

کلمات کلیدی:
بازررسی پرچ – تصویر برداری مگنتو اپتیکی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/57288/