پایش مکان رخداد نقص در کنترل نسبت اقلام معیوب

Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,404

This Paper With 14 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

IIEC06_112

تاریخ نمایه سازی: 8 مهر 1387

Abstract:

در برخی از فرایندهای مورد بررسی به کمک کنترل فرایند به کمک نمودار کنترل نسبت اقلام کعیوب مواردی به چشم می خورد که برای ریشه یابی عیوب علاوه بر نسبت اقلام معیوب باید تغییرات مکان رخداد نقص منجر به معیوب اعلام شدن محصول نیز مورد پایش قرار گیرد که نمودار کنترل نسبت اقلام معیوب به تنهایی قادر به انجام آن نیست. به همین دلیل در این تحقیق سعی شده تا به کمک توانمندی های شبکه های عصبی مصنوعی راهکاری برای پایش و آشکار سازی تغییر مکان رخداد نقص های منجر به معیوب اعلام شدن محصول ارائه کند تا در کنار نمودار کنترل نسبت اقلام معیوب بتواند انحرافات با دلیل را آشکار و ریشه یابی کند. در این مقاله مدلسازی شبکه عصبی مصنوعی، ابعاد آن و شیوه آموزش و بکارگیری آن مورد بررسی قرار گرفته است و به علاوه با تمرکز بر ساختار و طراحی شبکه عصبی مصنوعی تطبیق پذیر مورد بحث برای اجرای نهایی آن سه فاز طراحی شده و شرح کاملی از هر فاز ارائه شده است، سپس مثالی عملی با معرفی کامل محصول و نقصهای موجود مطرح شده و اجرای کامل این مدل روی این مثال واقعی به طور کامل تحلیل شده است و در نهایت به نتیجه گیری درباره این مدل پرداخته شده است.

Authors

عباس سقایی

دکترای مهندسی صنایع، استادیار دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران

کوشا صهبا

دانشجوی کارشناسی ارشد تحلیل سیستم دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • داگلاس سی مونتگومری، کنترل کیفیت آماری، دکتر رسول نورالسناء، چاپ ...
  • رابرت جی شالکف، شبکه های عصبی مصنوعی، محمود جورابیان، چاپ ...
  • . Stapper, C. H. (1973). Defect density distribution for LSI ...
  • . Albin, S. L., & Friedman, D. J. (1991). Clustered ...
  • . Wu, C. H. (2000). Hotelling T2 control chart combining ...
  • . Kun-Lin Hsieh, Lee-Ing Tong, Min-Chia Wang _ The application ...
  • نمایش کامل مراجع