مقایسه آنالیز ناپیوستگیهای خطوط مایکرواستریپ با استفاده از روشهای شبه استاتیک و TLM - SCN
Publish place: 12th Iranian Conference on Electric Engineering
Publish Year: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,675
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICEE12_027
تاریخ نمایه سازی: 13 مهر 1387
Abstract:
در این مقاله از روش عددی تمام موج TLM (Transmission Line Matrix) سه بعدی برای آنالیز ناپیوستگی در خطوط مایکرواستریپ استفاده شده است و پارامترهای -S ناپیوستگی ، با استفاده از روش فوق بدست آمده است . برای بدست آوردن پارامترهای - S نیاز به ایجاد تطبیق کامل روی پورتها می باشد . لذا از لایه های PML(Perfect Matched Layers) برای این منظور استفاده شده است و معادلات PML در روش TLM پیاده سازی شده اند . همچنین ساختارهای مایکرواستریپ مذکور با استفاده از روش شبه - TEM نیز مورد تحلیل قرار گرفته است . نتایج حاصل از این دو روش مقایسه شده اند و نشان داده شده است که در فرکانسهای پائین مایکرویو ، این نمودارها بر هم منطبق می باشند . ولی با افزایش فرکانس این نمودارها از هم دور می شوند و روش شبه -TEM دیگر معتبر نمی باشد و TLM استفاده شده در این مقاله برای حل معادلات ماکسول از نوعSCN(Symmetrical Condensed Node) می باشد .
Authors
محمد فضائلی فر
دانشگاه شیراز
حبیب ا.. عبیری
دانشگاه شیراز
احمد چلداوی
دانشگاه علم و صنعت
علیرضا ملاح زاده
دانشگاه شیراز
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :