تولید بردارهای آزمون برای مدارهای ترکیبی به روش احتمالاتی

Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 330

This Paper With 7 Page And PDF and WORD Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ELEMECHCONF04_138

تاریخ نمایه سازی: 11 مرداد 1396

Abstract:

تولید بردارهای آزمون برای مدارهای ترکیبی با استفاده از روش های قطعی تولید آزمون بسیار زمان بر می باشد. لذا یک روش مناسب برای تولید آزمون برای مدارهای ترکیبی این است که در مرحله اول با استفاده از یک روش تصادفی به تولید داده آزمون برای یک مدار پرداخت. سپس می توان برای بهبود پوشش اشکال با استفاده از روش های قطعی تولید آزمون، بردارهای آزمون جدیدی را تولید کرده و به مجموعه بردارهای آزمون تولید شده با روش-های تصادفی افزود. در این مقاله ما تولید داده آزمون به روش احتمالاتی را برای مرحله اول تولید بردارهای آزمون پیشنهاد می-نماییم. در این روش نمایش سیگنال ها به جای آنکه به صورت سنتی با یک سیستم عددی دو مقداری صورت گیرد، از یک سیستم احتمالاتی چهار مقداری برای نمایش مقدار سیگنال ها استفاده خواهیم کرد. این سیستم چهار مقداری به سادگی امکان نمایش و نیز پردازش سیگنال های دارای اشکال را فراهم می نماید و علاوه بر این امکان تزریق همزمان بیش از یک اشکال به مدار و تولید داده آزمون مناسب برای چندین اشکال را به صورت همزمان فراهم می نماید. ما از این روش برای تولید داده آزمون برای تعدادی مدار ترکیبی استفاده کرده و قابلیت و کارایی این روش را در تولید داده آزمون برای مدارهای ترکیبی نشان داده ایم.

Authors

آرزو کامران

دانشگاه رازی، کرمانشاه، ایران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • E. O. Osimiry, R. Ubar, S. Kostin and J. Raik, ...
  • E. O. Osimiry, S. Kostin, J. Raik and R. Ubar, ...
  • P. F. Mihancea, E. M. Mera-Batiz and M. Minea, "Guiding ...
  • H. Shen, W. Wei, Y. Chen and B. Chen, *Coverage ...
  • B. Reeb and H.J. Wunderlich, ، Determin istic Pattern Generation ...
  • A. Majumdar and S.B.K. Vrudhula, ،#Fault coverage and test length ...
  • J. Sosnowski, ، Experimental Evaluation of P seudorandom Test Effec ...
  • Y. K. Malaiya and S. Yang, ،The Coverage Problem for ...
  • G. Asadi and M. B. Tahoori, "An analytical approach for ...
  • M. R. Choudhury and K. Mohanram, "Accurate and scalable reliability ...
  • S. Kri shnaswamy, G. F. Viamontes, I. L. Markov, and ...
  • _ Lin and Y. Huang, "Scan Shift Power Reduction by ...
  • S. Kri shnaswamy, I. L. Markov, and J. P. Hayes, ...
  • H. Sabaghian-B idgoli, M. Namaki- Shoushtari, and Z. Navabi, "A ...
  • نمایش کامل مراجع