بررسی اثرات کانال کوتاه در ترانزیستور نانوسیمی بدون پیوند معمول و مقایسه آن با ساختار ترانزیستور بدون پیوند تحت کرنش

Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,287

This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

MGCONF01_113

تاریخ نمایه سازی: 11 مرداد 1396

Abstract:

افزایش کار آیی در ماسفت ها با کوچک کردن ابعاد افزاره ها و ورود به نظام نانو متری حاصل می شود. ترانزیستورها در ابعاد نانو با توجه به مزیت های آن، مشکلاتی را پدید می آورد که به آثار کانال کوتاه معروفند که موجبضعف عملکرد و افزایش توان تلفاتی در این افزاره ها می گردد. در این مقاله اثرات کانال کوتاه در ترانزیستورهاینانو سیمی بدون پیوند معمول و نانو سیمی بدون پیوند تحت کرنش، مانند ولتاژ آستانه، DIBL جریان حالت روشن و خاموش بررسی شده است. همچنین، مشخصه های الکتریکی دو ساختار مقایسه گردیده است. تحلیلهای عددی نشان می دهد استفاده از کرنش در ساختار ترانزیستورهای نانو سیمی بدون پیوند موجب افزایشجریان حالت روشن، کاهش مقدار DIBL، افزایش ولتاژ آستانه و بهبود مشخصه های الکتریکی می شود.

Keywords:

آثار کانال کوتاه , ترانزیستور نانو سیمی بدون پیوند , مقیاس نانو

Authors

زینب حیدری اصل

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه آزاد اسلامی واحد اهر

سیدرضا حسینی

استادیار گروه برق، دانشگاه آزاد اسلامی واحد خوی

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Y. Huang, X. Duan, Y. Cui, L. J Lauhon, K.-H. ...
  • Jing Wang, Anisur Rahman, Avik Ghosh, Gerhard Klimeck and Mark ...
  • Clive Harris, E.P. O'Reilly, _ Nature of the band gap ...
  • Choi, S.J. & Moon, D. & Kim, S. & Ahn, ...
  • ، 2Nonvolatile Memory by All Around-Gate Junctionless Transist Composed of ...
  • J.-P. Colinge, C.-W. Lee, A. Afzalian, N. D. Akhavan, R. ...
  • G. Giusi and G. Iannaccone, ،Junction engineering of 1T-DRAMs, ?* ...
  • A. Martinez, A. R. Brown, S. Roy, and A. Asenov, ...
  • G. Leung and C. O. Chui, *Variability impact of random ...
  • M. Aldegunde, A. Martinez, and J. R. Barker, _ of ...
  • A. Gnudi, S. Reggiani, E. Gnani, and G. Baccarani, 4Analysis ...
  • Young J, Young W, Park J, Lee J , Park ...
  • Alam K, Abdullah M, Effects of dielectric constant on the ...
  • نمایش کامل مراجع