تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها
Publish place: 1st Iranian Conference on Photonics Engineering
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,527
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PHOTONICS01_064
تاریخ نمایه سازی: 13 دی 1387
Abstract:
در طول ZrO2 و TiO2 لایه های دی الکتریک (k) و ضریب خاموشی (n) چکیده : هدف از این مقاله بررسی تجربی تغییرات ضریب شکست موجهای مختلف ( منحنی پاشندگی ) میباشد . به همین منظور با استفاده از نقاط بیشینه و مشاهده شده در طیف عبوری تجربی لایه های ضریب شکست و ضریب خاموشی این مواد در طول موجهای متفاوت محاسبه شده ، (Envelope Method) نازک و استفاده از روش پوش همچنین اثر تغییرات حرارتی بر منحنی پاشندگی این لایه ها بررسی گردیده است .
Keywords:
روش پوش و منحنی پاشندگی
Authors
علیرضا بتانج
پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا
سمیه امیری
دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی
بهرام ملت نواز
پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا
علی محمدی
پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :