Data Envelopment Analysis in Cellular Manufacturing Systems with machine-partworker incidence matrix

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 2,532

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICIORS02_415

تاریخ نمایه سازی: 11 اسفند 1387

Abstract:

This paper develops an integer mathematical programming model to design cellular manufacturing systems (CMS) using a data envelopment analysis (DEA) approach. Since workers have an important role in doing jobs on machines, assignment of workers to cells becomes a crucial factor for fully utilization of cellular manufacturing systems. The DEA is preformed to determine the most efficient solution of CMS for a three-dimensional machine-part-worker incidence matrix.

Keywords:

Authors

Iraj Mahdavi

Department of Industrial Engineering, Mazandaran University of Science and Technology, Babol, Iran

Jaber Mahmoudi

Department of Industrial Engineering, Mazandaran University of Science and Technology, Babol, Iran

Amin Aalaei

Department of Industrial Engineering, Mazandaran University of Science and Technology, Babol, Iran

Maghsud Solimanpur

Faculty of Engineering, Urmia University, Urmia, West Azerbaijan Province, Iran

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Scott, M.S., Teppe, B.J., Meredith, J.R., Marsh, R., Comparing the ...
  • T. Ertay, D. Ruan, 2005, Data envelopment analysis based decision ...
  • نمایش کامل مراجع