صابر شربتی - استاد، دانشگاه هوایی شهید ستاری
امین اکبری - دانشجوی کارشناسی، دانشگاه هوایی شهید ستاری
میلاد جلیلیان - دانشجوی کارشناسی، دانشگاه هوایی شهید ستاری
قاسم عزیزی - دانشجوی کارشناسی، دانشگاه هوایی شهید ستاری

کاربرد مواد چندلایه ای در دهه گذشته، به دلیل ویژگی های مهندسی عالی آنها، افزایش یافته است. در بسیاری از موارد، ضخامت لایه ها باید کاملا صحیح، اندازه گیری و کنترل شوند. به همین منظور روش های مختلفی برای اندازه گیری ضخامت چندلایه ای های نازک، گسترش یافته است. برخی از این روش ها عبارتند از: اشعه ایکس، میکروسکوپ نوری، القا مغناطیسی و جریان فوکو. اندازه گیری ضخامت بوسیله تکنیک زمان صعود ماوراصوت، در محیط های کنترل فرایند بطور گستردهای مورد استفاده قرار میگیرد.انتشار موج بین دو مرز لایه دارای یک تاخیر زمانی است که میتواند برای تخمین ضخامت لایه مورد استفاده قرار گیرد. بد بختانه، همین که ضخامت لایه کاهش می یابد، اکوی دوم بر روی قسمتی از اکوی اول قرار می گیرد