CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی خواص الکترونیکی آرسنین تک لایه با افزودن دوپینگ آلومینیوم، سیلیکون، گوگرد و فسفر

عنوان مقاله: بررسی خواص الکترونیکی آرسنین تک لایه با افزودن دوپینگ آلومینیوم، سیلیکون، گوگرد و فسفر
شناسه ملی مقاله: ECMCONF01_077
منتشر شده در کنفرانس بین المللی برق، کامپیوتر و مکانیک ایران در سال 1397
مشخصات نویسندگان مقاله:

آرش یزدان پناه گوهرریزی - دانشگاه شهید بهشتی، دانشکده مهندسی برق، تهران، ایر
آرش کرایی شیراز - دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما، تهران، ایران

خلاصه مقاله:
در این مقاله با استفاده از محاسبات اصول اولیه، در ابتدا ساختار آرسنین تک لایه را از نظر پایداریترمودینامیکی، مورد بررسی و مطالعه قرار دادهایم. همچنین اعمال ناخالصی به شبکه کریستالی آرسنین نیزمورد بررسی قرار گرفته است. در ادامه خواص الکترونیکی آرسنین تک لایه با توجه به میزان شکاف نوارانرژی، نمودارهای ساختار نوار انرژی و چگالی حالات مطالعه شده است. با استفاده از شبیه سازی ها میزانشکاف انرژی آرسنین تک لایه بدون اعمال ناخالصی مقدار 1/61 الکترون ولت و به صورت غیر مستقیم بدست آمده است. شبیه سازی های انجام شده در این تحقیق نشان داده است که اضافه کردن ناخالصی آلومینیوم وفسفر منجر به ایجاد خاصیت نیمهرسانایی با گاف انرژی 0/7 و 1/62 الکترون ولت می شود. لازم به ذکر است، ناخالصی آلومینیوم شکاف باند مستقیم و ناخالصی فسفر شکاف باند غیر مستقیم ایجاد می کنند. همچنیناضافه کردن ناخالصی سیلیکون و گوگرد منجر به ایجاد خاصیت شبه فلزی در آرسنین می شوند.

کلمات کلیدی:
آرسنین، ساختار باند، چگالی حالات، خواص الکترونیکی، گاف انرژی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/786548/