مدل Multiple Victim Test برای اشکالات همشنوایی گذرگاهای ارتباطی

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,624

This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

CSICC15_007

تاریخ نمایه سازی: 26 مهر 1388

Abstract:

تاثیرات همشنوایی دقت انتقال سیگنال را در گذرگاه های ارتباطی کاهش می دهند و بایستی در مدت ساخت و همچنین عملکرد نرمال تراشه مورد آزمایش قرار گیرند. در این مقاله ما مدل Multiple Victim Test که به اختصار MVT نامیده می شود ارائه داده ایم که در آن تاثیرات همشنوایی روی چندین خط قربانی از یک گذرگاه بطورهمزمان آزمایش می شود . در این مدل با استفاده از یک روش تولید آزمایش، دنباله ایی از بردارهای آزمایش استخراج می شود که کلیه اشکالات همشنوایی را مورد هدف قرار می دهند . تعداد بردارهای آزمایش در مقایسه با مدل MAF کاهش یافته و قابلیت بالاتری را نسبت به مدل MAF در آشکارسازی اشکالات ناشی از اتصالات خازنی و القاهای متقابل بین سیمهای یک گذرگاه ارتباطی دارد.

Authors

رضا نورمندی پور

دانشگاه آزاد اسلامی واحد سیرجان

آرش عزیزی مزرعه

دانشگاه آزاد اسلامی واحدفلاورجان

احمد خادم زاده

مرکز تحقیقات مخابرات ایران

امیرمسعود رحمانی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • P. Nordholz, D. Treytnar, J. Otterstedt, H. Grabinski, D. Niggemeyer, ...
  • _ _ VLSI _ Monterey, CA, pp. 28-33, ...
  • H. Zhou and D.F Wang, :Global routing with crosstalk constraints, ...
  • Z. Chen and I. Koren, "Crosstalk minimization in three- layer ...
  • A.B. Kahng, S. Muddu, E. Sarto, R. Sharma, "Interconnet tuning ...
  • Analysis Crosstalkء [5] S. Voranantakul, J. Prince, and P. Hsu, ...
  • Y. Eo, W. Eisenstadt, J. Jeong, and O. Kwon, :A ...
  • W. Chen, S. Gupta and M. Breuer, _ Generation in ...
  • K. Lee, C. Norquitst, and J. Abraham, :0Automatic Test Pattern ...
  • M. Cuviello, S. Dey, X. Bai, Y. Zhao, "Fault Modeling ...
  • Conference on C omputer-Aided Design, 297-303, 1999. ...
  • Wei-Cheng Lai, Jing-Reng Huang, Kwang-Ting Cheng, _ _ ded-software -based ...
  • T. Deguchi, T. Koide, S. Wakabayashi, "Timing driven hierarchical global ...
  • E. Bogatin, "Signal Integrity-Simpl ified, " Prentice Hall, 2004. ...
  • W. Chen, S. Gupta and M. Breuer, :Test Generation for ...
  • W. Chen, S. Gupta and M. Breuer, _ Generation in ...
  • Attarha and M. Nourani, :Test Patter Generation for signal Integrity ...
  • نمایش کامل مراجع