اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu

Publish Year: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 538

This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

MNTECH01_105

تاریخ نمایه سازی: 23 آذر 1397

Abstract:

در این پژوهش به سنتز و آنالیز ساختاری و اپتیکی نمونه های نانوساختار سولفید روی و سولفید روی آلاییده با مس میپردازیم. مطالعه ساختاری نمونه ها وجود طیف پهن مشخصه سولفید روی زینک بلند که به دلیل بسیار نازک بودن فیلم ها شکل آمورف آن غالب است را نشان میدهد. وجود یونهای مس تغییر محسوسی در طیف XRD سولفید روی آلاییده را باعث میشود. مطالعه UV-Visible نمونه ها حکایت از آن دارد که تراکم 1/5 درصد وزنی مس بهترین نتیجه را برای باریک تر کردن گاف انرژیZnS آلاییده بدست می دهد.

Keywords:

لایه های نازک سولفید روی , اسپری پایرولیز , گاف انرژی , UV-Visible پراش پرتو ایکس

Authors

فرناز علیزاده

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه بین المللی امام خمینی(ره) قزوین، ایران

محمدرضا خانلری

استاد تمام گروه فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) قزوین، ایران

مهتاب نیکزاد

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) قزوین، ایران