وحید مددی اورگانی - دانشگاه یاسوج، دانشکده فنی و مهندسی، گروه مهندسی شیمی
علیرضا نیکزاد - دانشگاه یاسوج، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک، کارشناس دستگاه AFM، آزمایشگاه مرکزی دانشگاه یاسوج
رقیه پرویزی - دانشگاه یاسوج، دانشکده علوم پایه، گروه فیزیک

میکروسکوپ های نیروی اتمی (AFM) به عنوان یکی از اصلی ترین تجهیزات شناسایی در مقیاسنانو شناخته شده است. این میکروسکوپ، با استفاده از سوزنی بسیار تیز که در حالت ایده آل در نوک آنتنها یک اتم جای می گیرد، خواصی از نمونه های مورد آنالیز را به صورت غیر مستقیم، ارایه می دهد و نقشبه سزایی را در پیشرفت تحقیقات علوم مختلف از جمله نانوفناوری، الکترونیک، انرژی، فضانوردی و غیرهایفا کرده است. نیروهای میان نوک سوزن و نمونه مورد بررسی می توانند از انواع نیروهای واندروالسی،الکترواستاتیکی، اصطکاکی، الکتریکی، مغناطیسی، چسبندگی، مویینگی و نیروهای اتمی باشد که بستهبه وجود این نیروها و فاصله سوزن تا سطح نمونه حالت های بررسی به سه صورت تماسی، غیر تماسی وضربه ای تقسیم بندی می شوند. از آنجایی که هیچ گونه محدودیتی از لحاظ خواص فیزیکی مواد برای ایندستگاه وجود ندارد، می توان از آن جهت مطالعه انواع مواد رسانا، نارسانا و نیمه رسانا استفاده کرد. ازروی جابجابی تیرک و انحراف انعکاس پرتو لیزر، تصویر سطح تهیه می شود. با ایجاد تغییرات کوچکیدر ولتاژ، پیزوالکتریک در راستاهای y, x و z دارای تغییرات مکانیکی شده و می توان محل تیرک را به جاهای مختلف نمونه انتقال داد. تصاویری از میکروسکوپی نیروی اتمی موجود در آزمایشگاه مرکزیدانشگاه یاسوج در حالت های مختلف نشان داده شده است. کیفیت تصاویر و میزان تفکیک پذیری بسیاربالای آن ها قابل مقایسه با سایر تصاویر می باشد و نشان از آنالیز مطلوب تر و دقت بالای تصویربرداریاین دستگاه نسبت به دیگر دستگاه های موجود است.

میکروسکوپ نیروی اتمی، سوزن، تیرک، کیفیت تصویر، حالت های تصویربرداری