روشی برای خطی نمودن پیمایش در سیستم های پیمایشگر پیزوالکتریکی برای کاربردهای میکرو و نانومتری

در راستای بالا بردن کارایی میکروسکوپها و نانوسکوپهای پیمایشی، که عنصر اصلی آنها یک پیمایشگر پیزوالکتریکی است، می بایستی، علاوه بر از بین بردن نوفه ها،نایکنواختی تغییر طول و پدیده پسماند در سلول پیزوالکتریک مورد استفاده در آنهارا نیز تصحیح نمود. برای این کار، باکمک گرفتن از کامپیوتر، روشی آسان معرفی شده است. نتیجه اعمال این روش در فرایند کاری دستگاه پیمایشگر پیزوالکتریکی، بدست آوردن فریزهای درهمروی به مراتب بهتر از آنچه که از ساخته کارخانه سازنده بدست می آید، است؛ که می تواند دلیلی بر خطی شدن پیمایش در این سیستم مبدل پیزوالکتریکی باشد.