سویچ زنی حافظه ای در نیم رساناهای آمورف لیتیوم-وانادیوم-فسفات
Publish place: Iranian Physics Conference 1387
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 948
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC87_274
تاریخ نمایه سازی: 24 آذر 1388
Abstract:
نمونه های آمورف، با فرمول عمومی mol%50) P2O5 - x mol% V2O5 -(50-x) mol% Li2O) ، به صورت فیلم دمشی ساخته شده است. در میدانهای الکتریکی بالا، سویچ زنی الکتریکی در این نمونه ها مشاهده می شود که به علت گذار از حالت آمورف به کریستال است و در نتیجه آن، مقاومت ماده در ناحیه سویچ کرده به شدت کم می شود. با افزایش اکسید لیتیوم، ولتاژ سویچ زنی بیشتر می شود. علت این رفتار به ایجاد گروه های مولکولی ویژه در شبکه نسبت داده می شود که موجب کاهش پیوستگی شبکه آمورف می شود. مشاهده می شود که این نمونه ها، بعد از سویچ زنی، با از بین رفتن میدان الکتریکی، حالت مقاومت کم را در خود حفظ می کنند و به عبارت دیگر، دارای حافظه هستند.