مقاومت دیفرانسیلی منفی در ساختار ناهمگون GaAs/AlxGa1-xAs

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,382

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

IPC88_301

تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388

Abstract:

در این مقاله نشان داده ایم که میدان الکتریکی موازی آستانه برای بروز پدیده مقاومت دیفرانسیلی منفی (NDR) بیشینه چگالی جریان درساختار GaAs/AlGaAs به وسیله تحرک پذیری حامل ها و میزان آلایش کنترل میشود. محاسبات ما نشان میدهد که میدان آستانه NDR برای ارتفاع سد 0/1ev و غلظت (فرمول در متن اصلی موجود می باشد) حدود 3/5KV/cm می باشد که با نتایج تجربی توافق خوبی دارد.

Authors

قاسم انصاری پور

گروه حالت جامد، دانشکده فیزیک دانشگاه یزد

الناز محرابی پور

دانشگاه آزاد اسلامی واحد مبارکه

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • M. J. Kelly; _ Dimensional Semiconductor Material, Physics Technology Devices:; ...
  • S. Li. Sheng; _ 'Semiconductor Physical Electronics"; Plenum. (1993) ...
  • S. O Pillai; _ Solid State Physics *; Fourth Edition ...
  • H. Shichijo; K. Hess; B. G. Streetman; "Solid-State Electronics "; ...
  • G. Bastard:; :Wave Mechanics Applied to Semiconductor Hete rostructtures "; ...
  • M. Keever; H. Shichijo; K. Hess; S. Banerjee; L. Witkowski; ...
  • نمایش کامل مراجع