بررسی پارامترهای ترابرد الکترون در ایندیوم آنتیمونت در دماها و میدان های مختلف به روش مونت کارلو

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,093

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

IPC88_386

تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388

Abstract:

در این مقاله مشخصه های ترابرد الکترون ها در ایندیوم آنتیمونت در دماهای مختلف (300-77 درجه کلوین) محاسبه شده است. این محاسبات نشان می دهد که برای ایندیوم آنتیمونت در میدان های الکتریکی ضعیف پراکندگی مربوط به ناخالصی های یونیزه شده مکانیسم غالب می باشد. تحرک پذیری، انرژی میانگین و سرعت سوق به صورت تابعی از قدرت میدان الکتریکی محاسبه می شود. در آخر انواع مکانیسم های پراکندگی و حضور هر مکانیسم در کل پراکندگی مشخص می شود.

Authors

مهران قلی پور شهرکی

گروه فیزیک، دانشکدهعلوم، دانشگاه اراک

وحدت رفیعی

سازمان سما وابسته به دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک

محمود لشنی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک

مجتبی گودرزی

جهاد دانشگاهی استان مرکزی واحد اراک

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • .رفیعی، وحدت. شبیه سازی ترابرد الکترون‌ها در ترانزیستورهای ماسفت با ...
  • _ W. L. Chin, R. J. Egan, and T. L. ...
  • . Otfried Madelung, Semiconductor -Basic Data, (Springer- Verlag, New York, ...
  • . Carlo Jacoboni and Lino Reggiani, Rev. Mod. Phys., 55 ...
  • . W. Fawcett, A. D. Boardman, and S. Swain, J. ...
  • . J. G. Ruch and W. Fawcett, J. Appl. Phys., ...
  • C. Jacoboni, L. reggiani, The Monte Carlo Method for the ...
  • _ W. L. Chin, R. J. Egan, and T. L. ...
  • نمایش کامل مراجع