بررسی اثر دمای بازپخت بر خواص ساختاری، اپتیکی، الکتریکی و نور رسانایی لایه های نازک اکسید روی با ناخالصی آلومنیوم (AZO) جایگذاری شده به روش سل-ژل (پوشش دهی چرخشی)

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,184

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

IPC88_399

تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388

Abstract:

لایه های نازک اکسید روی با ناخالصی آلومینیوم به روش پوشش دهی چرخشی بر روی بستر شیشه ای و در دماهای 450 تا 600 درجه سانتی گراد تهیه و خواص ساختاری، اپتیکی، الکتریکی و نور رسانایی آنها بررسی شدند. پراش پرتو X تمامی نمونه ها، ساختار هگزاگونال وورتسایت با سمتگیری ارجح(002) را نشان می دهد بطوریکه با افزایش دمای بازپخت، اندازه بلورک ها افزایش یافته و بلورینگی لایه ها بیشتر می شود. طیف اپتیکی همه لایه ها، عبور بالای 90% را نشان می دهد از طرفی گاف اپتیکی نمونه ها روند کاهشی دارد. مقاومت سطحی لایه ها نیز با افزایش دمای باز پخت کاهش می یابد.

Authors

مجتبی محمدی

گروه فیزیک؛ دانشگاه فردوسی مشهد

محمود رضایی رکن آبادی

گروه فیزیک؛ دانشگاه فردوسی مشهد - آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد، دانش

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • G. Gordillo, C. Calderon, Solar Energy Mater. Solar Cells 6) ...
  • P. Nunes, D. Costa, E. Fortunato, R. Martins, Performances _ ...
  • K.S. Weibenrieder, J. Muller, Thin Solid Films, 300) (1997), [] ...
  • B. Szyszka, S. Jger, J. Non-Cryst. Solids 74 (1997) 218. ...
  • J.H. Lee, B.-O. Park, Mater. Sci. Eng. B 106 (2004) ...
  • H.-C. Han, I.-J. Kim, W.-P. Tai, J.-K. Kim, M.-S. Shim, ...
  • B.D. Cullity, Elements of X-Ray Diffraction, (1 978) Addison- Wesley ...
  • Z. Hong-ming, Y. Dan-qing _ Y. Zhi-ming, X. Lai-rong, L. ...
  • W.C. Tan, K. Koughia, J. Singh and S.O. Kasap, Optical ...
  • Z. Jiwei , Z. Liangying, Y. Xi, Ceramics Intermational 26 ...
  • Y. S. Kim, W. P. Tai , Applied Surface Science ...
  • نمایش کامل مراجع