تشخیص عیوب ظاهری و طبقه بندی هندوانه با استفاده از پردازش تصویر

Publish Year: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 588

This Paper With 9 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

AFPICONF06_029

تاریخ نمایه سازی: 20 خرداد 1398

Abstract:

این مقاله یک روش سریع، دقیق و غیر مخرب برای طبقه بندی عیوب سطحی و درونی میوه هندوانه با استفاده از پردازش تصویر ارائه شده است. جهت تعیین میزان عیوب درونی، جرم 30 هندوانه با استفاده از یک ترازوی دیجیتالی با دقت 2 گرم اندازه گیری شد و حجم آنها به روش مساحت سطح از طریق پردازش تصویر محاسبه گردید و درنهایت جرم ویژه (نسبت جرم به حجم) مشخص شد. بر اساس آستانه هایی که برای طبقه بندی انتخاب شد، میوه هندوانه در 3 درجه مختلف طبقه بندی گردید. مقادیر مینیمم و ماکزیمم جرم ویژه برای دسته بندی هندوانه های سالم رقم کریمسون سوئیت 0.9 تا 0.98 به دست آمد. درنهایت مقادیر واقعی و محاسبه شده جرم ویژه بر اساس آستانه های انتخابی مورد مقایسه قرار گرفت که خطای طبقه بندی در روش مساحت سطح، 10 درصد به دست آمد. جهت تعیین میزان عیوب سطحی از نرم افزار MATLAB استفاده شد که بعد از یافتن محل لکه (آسیب سطحی و شکستگی) اختلاف سطح سالم و معیوب محاسبه گردید و درنهایت هندوانه ها در 3 سطح طبقه بندی شد.

Authors

سمیرا جغتایی

کارشناسی ارشد مخابرات، موسسه آموزش عالی خراسان، خراسان رضوی، ایران

سید علیرضا سیدین

دکترای مهندسی مخابرات، دانشیار دانشگاه فردوسی، مشهد، ایران