فرزاد مرادیان نژاد - سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هسته ای
حمیدرضا زنگنه - دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
امید پناهی - دانشگاه شهید بهشتی، موسسهی تحقیقات لیزر و پلاسما
محسن گلزارشهری - سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هسته ای،

در این پژوهش امکان ارزیابی مواد به صورت غیر مخرب با استفاده از امواج تراهرتز بررسی شد. برای این منظور نتایج حاصل از تعیین ابعاد عیوب مشخص روی نمونه های الگوی ساخته شده از جنس آلومینیوم، پلکسی گلاس و سرامیک دی اکسید زیرکونیوم با نتایج حاصل از اندازه گیری های ابعادی با روشهایی نظیر ماشین اندازه گیری مختصات، میکروایکس و ماشین اندازه گیری مرئی مقایسه گردید. جهت انجام پژوهش، بسته به ماهیت نمونه و اطلاعات مورد نیاز از دو چیدمان سیستم تصویربرداری تراهرتز عبوری و انعکاسی بر پایه ی سیستم طیف سنجی حوزهی زمانی تراهرتز استفاده شد که در آن تولید و آشکارسازی پالسهای امواج تراهرتز با استفاده از یک لیزر فمتوثانیه انجام میشود. نتایج نشان داد آزمون غیرمخرب تراهرتز در تشخیص عیوب (عیوب سطحی بسیار کم عمق و عیوب مخفی در بافت نمونه) و اندازهگیریها برتر از برخی روشهای متداول ذکر شده است. در مجموع بسته به انتظار از آزمون و نوع عملکرد آن، روش تصویربرداری با امواج تراهرتز را میتوان جزو آزمونهای غیرمخرب قابل رقابت با روش های متداول دانست.

آزمون غیر مخرب، امواج تراهرتز، نمونهی الگو، درونیابی تصویر