فرزاد مرادیان نژاد - دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
حمیدرضا زنگنه - دانشگاه کاشان، دانشکده فیزیک، گروه لیزر و فوتونیک
امید پناهی - دانشگاه شهید بهشتی، موسسه ی تحقیقات لیزر و پلاسما
محسن گلزار شهری - سازمان انرژی اتمی ایران، شرکت سوخت راکتورهای هسته ای، صندوق پستی: ۱۹۵۷-۸۱۴۶۵

در این پژوهش امکان ارزیابی مواد به صورت غیر مخرب با استفاده از امواج تراهرتز بررسی شد. برای این منظور نتایج حاصل از تعیین ابعاد عیوب مشخص روی نمونه-های الگوی ساخته شده از جنس آلومینیوم، پلکسی گلاس و سرامیک دی اکسید زیرکونیوم با نتایج حاصل از اندازه گیری های ابعادی با روش هایی نظیر ماشین اندازه-گیری مختصات، میکروایکس و ماشین اندازه گیری مرئی مقایسه گردید. جهت انجام پژوهش، بسته به ماهیت نمونه و اطلاعات مورد نیاز از دو چیدمان سیستم تصویربرداری تراهرتز عبوری و انعکاسی بر پایه ی سیستم طیف سنجی حوزه ی زمانی تراهرتز استفاده شد که در آن تولید و آشکارسازی پالسهای امواج تراهرتز با استفاده از یک لیزر فمتوثانیه انجام می شود. نتایج نشان داد آزمون غیرمخرب تراهرتز در تشخیص عیوب (عیوب سطحی بسیار کم عمق و عیوب مخفی در بافت نمونه) و اندازه گیری ها برتر از برخی روش های متداول ذکر شده است. در مجموع بسته به انتظار از آزمون و نوع عملکرد آن، روش تصویربرداری با امواج تراهرتز را می توان جزو آزمون های غیرمخرب قابل رقابت با روش های متداول دانست.

آزمون غیر مخرب, امواج تراهرتز, نمونه ی الگو, درونیابی تصویر