modeling and control of atomic force microscope cantilever beam, using piezoelectric

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,700

This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ISME17_293

تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389

Abstract:

Atomic force microscope (AFM) is one of the most important probe scanning microscopes applied for high resolution images from surface and pushing of nano particles.

Keywords:

Authors

ardeshir karami mohammadi

assistant professor

reza kazemi esfeh

M.Sc student

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • -Brandon, D. and Kaplan, ...
  • characterization of Materials" John Wiley & Sons (1999). ...
  • -Amelinckx, S., van Dyck, D., van Landuyt, J. and van ...
  • -http :/hanolab.nan, ir , www.nanoir ...
  • -S. Narayanan, V. B al amurugan "Finite element modelling of ...
  • -IEEE Standard On P iezoelectricity, ANSI-IEEE Std 176- 187, 1987. ...
  • -M.V. Salapaka and D.J. Chen "Linearity of amplitude and phase ...
  • -H. Kwakernaak, R. Sivan, Linear Optimal Control Systems, Wiley, New ...
  • -C.R. Fuller, S.J. Elliot, P.A. Nelson, Active Control of Vibration, ...
  • -Jiangbo Zhang, Guangyong Li, Ning Xi'"Modeling and Control of Active ...
  • -Principles and Techniques of Vibrations, Leonard Meirovitch, 1997 ...
  • نمایش کامل مراجع