modeling and control of atomic force microscope cantilever beam, using piezoelectric
Publish place: 17th Annual Conference of Mechanical Engineering
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,700
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME17_293
تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389
Abstract:
Atomic force microscope (AFM) is one of the most important probe scanning microscopes applied for high resolution images from surface and pushing of nano particles.
Keywords:
Authors
ardeshir karami mohammadi
assistant professor
reza kazemi esfeh
M.Sc student
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :