modeling and control of atomic force microscope cantilever beam, using piezoelectric
عنوان مقاله: modeling and control of atomic force microscope cantilever beam, using piezoelectric
شناسه ملی مقاله: ISME17_293
منتشر شده در هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک در سال 1388
شناسه ملی مقاله: ISME17_293
منتشر شده در هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک در سال 1388
مشخصات نویسندگان مقاله:
ardeshir karami mohammadi - assistant professor
reza kazemi esfeh - M.Sc student
خلاصه مقاله:
ardeshir karami mohammadi - assistant professor
reza kazemi esfeh - M.Sc student
Atomic force microscope (AFM) is one of the most important probe scanning microscopes applied for high resolution images from surface and pushing of nano particles.
کلمات کلیدی: atomic force microscope, active control the vibration, piezoelectric material , finite element.
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/90455/