محمدتقی احمدیان - استاد دانشکده مکانیک دانشگاه صنعتی شریف
محمدحسین کهربائیان - دانشجوی کارشناسی ارشد دانشکده مکانیک

دراین مقاله فرکانس تشدید پیچشی همچنین حساسیت پیچشی میکروتیرنوع جدیدی از میکروسکوپ های نیروی اتمی همراه با پروب اسمبل شده عمودی جهت اسکن دیواره های جانبی و لبه ها، مورد بررسی قرار گرفته و اثر سختی تماسی بین سطح مورد بررسی و نوک میکروسکوپ نیروی اتمی همچنین تاثیر نسبت طول پروب عمودی به طول میکروتیر افقی و جرم نوک این نوع جدید از میکروسکوپ های نیروی اتمی برروی فرکانس تشدید و حساسیت پیچشی میکروتیر افقی مورد مطالعه قرار گرفته و در پایان صحت مدل بررسی شده است.

میکروسکوپ نیروی اتمی، حساسیت پیچشی، اسکن دیوارهای جانبی