تاثیر ضخامت سینتیلاتور بر میزان پس تاب آن در آشکارسازهای پرتو X
Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 483
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICTINDT03_051
تاریخ نمایه سازی: 18 مرداد 1398
Abstract:
تصویربرداری میکروسکوپی سه بعدی با استفاده از پرتو X که به آن توموگرافی کامپیوتری نیز گفته میشود یکی از روشهای انجام آزمونهای غیر مخرب برای تشخیص ساختارهای داخلی اجسام به صورت سه بعدی میباشد. یکی از بخشهای مهم هر سیستم توموگرافی کامپیوتری آشکارساز پرتو 1X است. از میان انواع مختلف آشکارسازها آشکارسازهای سینتیلاتور حالت جامد2 به طور گسترده ای در سیستم های CT و همچنین شتابدهنده های سینکروترون3 میکرو توموگرافی استفاده میشوند . در کنار پارامترهای مختلف، میزان ضخامت سینتیلاتور بر راندمان و عملکرد این آشکارسازها تاثیر دارد. سینتیلاتورهای ضخیم تر منجر به انتشار نور بالاتر میشوند اما از طرفی وضوح تصویر با افزایش ضخامت سینتیلاتور کاهش می یابد. برای رسیدن به یک سرعت اسکن بالاتر، معمولا از سینتیلاتورهای ضخیم تر استفاده میشود. اما ضخامت سینتیلاتور ممکن است اثر پس تاب4 سینتیلاتور را تحت تاثیر قرار دهد. در این مقاله تاثیر ضخامت سینتیلاتور های LuAG:Ce در فروزش و اثر پس تاب بررسی شده است. نتایج تجربی نشان می دهد که علاوه بر نوع مواد استفاده شده در سینتیلاتور و شرایط آزمایش ( مانند مدت زمان تابش پرتو و انرژی پرتو ) ، ضخامت سینتیلاتور نقش تعیین کننده در فروزش سینتیلاتور و به ویژه اثر پس تاب آن دارد.
Keywords:
Authors
Karim Zarei Zefreh
iMinds-Visionlab, University of Antwerp, Universiteitsplein ۱, B-۲۶۱۰ Antwerp, Belgium
Jan De Beenhouwer
iMinds-Visionlab, University of Antwerp, Universiteitsplein ۱, B-۲۶۱۰ Antwerp, Belgium
Jan Sijbers
iMinds-Visionlab, University of Antwerp, Universiteitsplein ۱, B-۲۶۱۰ Antwerp, Belgium