بررسی روش های تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل
عنوان مقاله: بررسی روش های تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل
شناسه ملی مقاله: DCONF04_025
منتشر شده در چهارمین همایش بین المللی افق های نوین در مهندسی عمران،معماری و شهرسازی در سال 1398
شناسه ملی مقاله: DCONF04_025
منتشر شده در چهارمین همایش بین المللی افق های نوین در مهندسی عمران،معماری و شهرسازی در سال 1398
مشخصات نویسندگان مقاله:
آیدا پروندی - دانشجوی کارشناسی ارشد سنجش از دور، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران
امیرشاهرخ امینی - عضو هیئت علمی گروه مهندسی نقشه برداری، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران
خلاصه مقاله:
آیدا پروندی - دانشجوی کارشناسی ارشد سنجش از دور، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران
امیرشاهرخ امینی - عضو هیئت علمی گروه مهندسی نقشه برداری، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران
با پیشرفت تکنولوژی و پیدایش سنسور های متنوع در طیف الکترومغناطیس، سنجش از دور با مقادیر قابل توجهی داده سر و کار دارد. به منظور بهره مندی توام از اطلاعات طیفی و مکانی سنسور های مختلف از تلفیق تصاویر استفاده میگردد. تلفیق تصویر ترکیبی است از دو یا چند تصویر از منابع مختلف که در رزولوشن، محدوده ی طیفی و روش های اخذ تصویر باهم متفاوتند و هدف تبدیل آن به یک تصویر واحد است که تمام ویژگی های مهم تصاویر ورودی در خود حفظ کرده است. این تصاویر در سه سطح پیکسل، ویژگی و سیمبل میتوانند با هم تلفیق شوند و اطلاعاتی با کیفیت را نتیجه دهند که از یک تصویر واحد امکان پذیر نمیباشد. معنا و برآورد کیفیت به بستگی به کاربرد مورد نظر برای تلفیق تصاویر دارد. از این رو هر روش برای کاربردی خاص استفاده میشود و در آن زمینه دقت دارد. هدف از این مقاله مروری بر روش های برجسته ی تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل و ارزیابی و مقایسه ی آن ها میباشد.
کلمات کلیدی: پیکسل، سنجش از دور، تلفیق
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/911446/