روش های دنباله ای برای برآورد پارامتر مکان توزیع نمایی منفی تحت تابع زیان خطی نمایی تعدیل یافته
Publish place: Sixth International Conference on New Advances in Science and Technology Focused on Science in Development Services
Publish Year: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 483
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
DSCONF06_033
تاریخ نمایه سازی: 23 شهریور 1398
Abstract:
بسیاری از مسائل آمار کلاسیک بر مبنای ثابت بودن حجم نمونه قابل حل نیستند. در سالیان اخیر بسیاری از پژوهشگران برای حل این مسائل از روش های دنباله ای کمک گرفته اند که در آن ها نمونه ی به کار گرفته شده ثابت نبوده بلکه خود یک متغیر تصادفی است.در این مقاله روش های برآورد دنبالهای پارامتر مکان توزیع نمایی دو پارامتری تحت تابع زیان خطی-نمایی تعدیل یافته معرفی می شود، هدف کرانداری شاخص ریسک بر هزینه توسط مقدار ثابت، مثبت و از پیش تعیین شده ی ω است.در ادامه به معرفی ویژگی های مجانبی برای روش های دنباله ای به کار گرفته شده، میپردازیم. برای نشان دادن درستی آنچه به صورت تئوری بیان شده، شبیه سازی هایی آورده میشود.
Keywords:
Authors