فاطمه رحیمی جعفری - دانشکده فیزیک، دانشگاه شاهرود، شاهرود
حسین عشقی - دانشکده فیزیک، دانشگاه شاهرود، شاهرود
زهره قرآن نویس - گروه فیزیک، دانشگاه آزاد اسلامی، واحد کرج، البرز

دراین تحقیق لایه های نازک اکسید تنگستن خالص (WO3) با حجم های متفاوت 50، 75 و 100 ml محلول برروی زیرلایه ی شیشه به روش اسپری پایرولیزیز لایه نشانی شدند. تصاویر SEM نشان دهنده ی تشکیل رشته هایی در هم تنیده در سطح لایه است. همچنین طیف XRD نشانگر تشکیل فاز آمورف در کلیه نمونه هاست. تغییرات طیف عبور اپتیکی لایه ها و نیز تغییرات گاف نواری اپتیکی نمونه ها بخوبی با خواص الکتریکی آنها در توافق می باشد. سرانجام دریافتیم نمونه لایه نشانی شده با حجم 75 ml از بالاترین تناسب عنصری در مقایسه با دیگر نمونه ها برخوردار می باشد.