اثرناخالصی فسفرP برروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک نیمرسانای FTO
Publish place: Iranian Physics Conference
Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 265
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC93_240
تاریخ نمایه سازی: 5 آذر 1398
Abstract:
دراین تحقیق لایه های نازک FTO باناخالصی فسفر به روش اسپری پایرولیزیز برروی بسترهای شییشه ای تهیه شده وتراز ناخالصی فسفربانسبت اتمی [P]/[Sn]=0/1-10 درمحلول اولیه تغییر داده شداثرحضورناخالصی فسفربرروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک FTO:P بررسی شدنتایج نشان می دهد که باافزودن ناخالصی فسفرلایه ها دارای ساختاربس بلوری بافازاصلی SnO2 می باشند مقاومت سطحی لایه ها نیزدرنسبت مولی P/Sn= % 1;کمترین مقداررا نشان میدهد با افزایش تراکم ناخالصی شفافیت لایه ها نیز افزایش می یابد که بیشترین شفافیت اپتیکی لایه های FTO باناخالصی P درحدود 60درصد درناحیه مرئی بدست می آید
Authors
الهام مکاری پور
آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان
محمدمهدی باقری محققی
آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان
حسن عظیمی جویباری
آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان