مطالعه ساختاری نانوسیم هایSnO2تهیه شده به روش تبخیر حرارتی بدون استفاده از کاتالیست
Publish place: Iranian Physics Conference
Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 185
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC93_543
تاریخ نمایه سازی: 5 آذر 1398
Abstract:
در این تحقیق نانوسیم های دی اکسید قلع از طریق فرآیند تبخیر حرارتی و بدون استفاده از کاتالیست بر روی زیرلایه ی سیلیکون رشد داده شده اند. ساختار وریخت شناسی محصولات ساخته شده به ترتیب به وسیله ی الگوی پراش پرتو ایکس و میکروسکوپ الکترونی روبشی مورد بررسی قرار گرفتند. نتایج حاصل ازاندازه گیری ها نشان دادند که نانوسیمها قطری کمتر از 200 نانومتر تا چند ده نانومتر و طول چند میکرومتر دارند
Authors
ایرج کاظمی نژاد
گروه فیزیک، دانشگاه شهید چمران، اهواز
لیلا داودی
گروه فیزیک، دانشگاه شهید چمران، اهواز
ابراهیم موسوی قهفرخی
گروه فیزیک، دانشگاه شهید چمران، اهواز