فاطمه خدام - گروه شیمی کاربردی، دانشکده شیمی، دانشگاه تبریز، تبریز، ایران

علم مطالعه رشد، شکل خارجی، ساختار داخلی و خواص فیزیکی کریستال ها را بلورشناسی می گویند. با کشف اشعه X در سال 1895، امکان مطالعه ساختار درونی کریستال ها و ارتباط آن با ساختار بیرونی فراهم شد. از این رو طیف سنجی پراش (تفرق) اشعه X یک تکنیک پرکاربرد برای بررسی خصوصیات کریستال ها می باشد. ناحیه پرتو X در طیف الکترومغناطیس در محدوده بین پرتو گاما (γ) و پرتو فرابنفش قرار دارد. اشعه های X که برای پراش استفاده می شوند، معمولا طول موجی در حدود 5/0 الی 5/2 آنگستروم دارند. بنابراین این روش بر پایهی خاصیت موجی اشعه ایکس استوار است. با استفاده از این ناحیه طیفی می توان اطلاعاتی در مورد عموم کمیت ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه، تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیری تک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه وغیره به دست آورد. همچنین طیف سنجی پراش اشعه X به دلیل داشتن تجهیزات ساده و آماده سازی نمونه آسان، روشی پر کاربرد در زمینه های مختلف می باشد. در XRD با تعیین پارامترهای موثر از جمله زاویه براگ، شدت و پهنای پیک ها و اندازه ذرات می توان ترکیبات را شناسایی کرد. در این مقاله ابتدا با اساس کار تکنیک XRD و سپس با اجزا دستگاه XRD آشنا خواهیم شد.

کریستال, اشعه X, الکترومغناطیس, XRD, شبکه