مروری بر روش های کاهش خطای نرم در آرایه برچسب حافظه نهان

فضای اشغال شده توسط حافظه نهان در واحدهای پردازشگر گرافیکی یا واحدهای پردازشگر مرکزی 2 شامل بخش بزرگی می شود که دائم مورد دسترسی قرار می گیرد. حافظه نهان از تعداد زیادی ترانزیستور تشکیل شده که با توجه به اندازه کوچک و ولتاژ کاری پایین به خطاهای گذرا حساس می باشند. واژگونی بیت های برچسب 4 حافظه نهان باعث ایجاد FalseHit می شوند. رویداد FalseHit علاوه بر شکست باعث خروجی نادرست برنامه خواهد شد. در این مقاله روش های کاهش خطای نرم در برچسب را مروری می کنیم.

Keywords:

و FalseHit , آرایه برچسب , بافر کپی برچسب , توابع درهم ساز , بیت های یکسان , معماری HBAM