اندازه گیری عناصر اصلی سازنده سنگ های سیلیكاته به روش فلورسانس اشعه ایكس از طریق تهیه قرص های شیشه ای

طیف نگاری فلورسانس اشعه ایكس از روش های آنالیز به صورت چند عنصری است. با استفاده از این تكنیک، مي توان آنالیز عنصری را به صورت کمّي و نیمه کمّي به خصوص در مورد نمونه های معدني، باستاني، زمین شناسي، سیمان، سرامیک و آلیاژهای فلزی انجام داد که ردیابي عناصر از سبک(سدیم) تا سنگین مثل اورانیوم به جز گازهای نجیب را ممكن مي سازد. در این کار پژوهشي، ابتدا تعدادی نمونه سنگي سیلیكاته پس از خردایش و آسیاب با استفاده از یک کمک ذوب مناسب، ذوب شده و به صورت قرص شیشه ای (یا قرص ذوب) قالب گذاری شدند. تعدادی از قرص های شیشه ای بعد از آنالیز (به وسیلهآزمایشگاه مرجع) برای کالیبراسیون عناصر اصلي استفاده شدند. سپس تعدادی نمونه سنگي سیلیكاته به صورت قرص شیشه ای به وسیله دستگاه فلورسانس اشعه ایكس آنالیز شده و نتایج بدست آمده با نتایج آزمایشگاه مرجع مورد مقایسه قرار گرفتند. مقایسه نتایج نشان مي دهد که صحت نتایج قابل قبول مي باشد. دلیل این امر مي تواند این باشد که خطاهای آنالیزی مربوط به اندازه دانه و تأثیر ماتریس با تهیه قرص شیشه ای از سنگ های سیلیكاته(به عنوان نمونه های همگن شده) حذف مي شوند.

Keywords:

فلورسانس اشعه ایکس , سنگ سیلیکاته , قرص شیشه ای , آنالیز عنصری