اثر روش سنتز بر میکروساختار و خواص دی الکتریک پیزوسرامیک بدون سرب (K۰.۴۴Na۰.۵۲Li۰.۰۴)(Ta۰.۱Sb۰.۰۶Nb۰.۸۴)O۳

در این تحقیق پودرهای پیزوسرامیکی بدون سرب (K۰.۴۴Na۰.۵۲Li۰.۰۴)(Ta۰.۱Sb۰.۰۶Nb۰.۸۴)O۳ به دو روش سرامیکی سنتی و پوشش دهی کلوییدی آبی تهیه گردید. پودرهای سرامیکی سنتز شده پس از پرس شدن در دماهای مختلف پخت شدند. بر روی تمامی نمونه ها آزمون های اشعه ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و اندازه گیری خواص دی الکتریکی انجام شد. الگوی پراش اشعه ایکس نمونه های بالک ساخته شده از پودرهایی که با روش کلوییدی آبی سنتز شده بودند، تشکیل فاز خالص پروسکایت پیزوسرامیک بر پایه نایوبات سدیم-پتاسیم را نشان داد. آزمون اشعه ایکس نمونه های پخت شده که پودرهای اولیه آن با کمک روش سرامیکی سنتی تهیه شده بودند علاوه بر ساختار پروسکایت، تشکیل فاز ناخالصی با ساختار تتراگونال تنگستن-برنز را نیز نشان داد. تصاویر SEM نمونه های بالک پیزوسرامیکی تهیه شده از هر دو روش سرامیکی و کلوییدی آبی مورفولوژی مکعبی شکل دانه های نایوبات سدیم پتاسیم را به وضوح نشان داد. ضریب دی-الکتریک نمونه های تهیه شده به کمک روش سرامیکی سنتی بالاتر از قرص های ساخته شده به روش کلوییدی آبی بوده در حالی?که میزان اتلاف دی الکتریک برای نمونه های تهیه شده به روش کلوییدی آبی پایین تر بود.

Keywords:

ضریب دی الکتریک , روش کلوییدی آبی , نایوبات سدیم , پتاسیم , XRD و SEM