ارائه روشی جهت تعیین بخشهای حساس مدارهای الکترونیکی نسبت به پالسهای سریع گذرا
Publish place: 27th International Power System Conference
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 727
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PSC27_097
تاریخ نمایه سازی: 19 دی 1391
Abstract:
آزمون مصونیت در مقابل پالس های سریع گذرا یکی ازآزمون های نوعی مهمی است که به منظور بررسی ایمنی دستگاه در مقابل اغتشاشات ناشی از پدیده سوئیچینگ و ناشی از بارهای سلفی کوچک و قطع و وصل کنتاکترله ها یا سوئیچینگ کلیدهای ولتاژ بالا بر روی تجهیزات اعمال م یشود و کارایی دستگاه تحت این نوع اغتشاشات مورد بررسی قرار می گیرد. با انجام آزمون پالس های سریع گذرا مطابق استاندارد بر روی کل دستگاه و عدم موفقیت در گذراندن آن، اولاً نقطه حساس مدار به راحتی قابل تشخیص نیست، ثانیاً تکرار این نوع آزمون ها در آزمایشگاه های مربوطه بسیار زمانبر و هزینه بر می باشد. بااستفاده از مدار کم هزینه شبی هساز پال سهای سریع گذرا می توان در مرحله طراحی و ساخت اولیه مدارهای الکترونیکی، نقاط حساس آن را مشخص نمود و نسبت به رفع حساسیت آن ها اقدام نمود. در این مقاله به معرفی ویژگی های پال سهای سریع گذرا و ارائه روشی جهت شبیه سازی این پالس ها که در مرحله طراحی دستگاهDTPS-8C نیز مورد استفاده قرار گرفته، پرداخته شده است.
Keywords:
سازگاری الکترومغناطیسی , پال سهای سریع گذرا
Authors
بهنام غلامرضازاده فامیلی
گروه مخابرات، پژوهشکده کنترل و مدیریت شبکه، پژوهشگاه نیرو
مریم شبرو
گروه مخابرات، پژوهشکده کنترل و مدیریت شبکه، پژوهشگاه نیرو