ساخت و بررسی خواص فیزیکی و مقاومت الکتریکی نانوسیم های اکسید روی
Publish place: Optoelectronic، Vol: 1، Issue: 2
Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 93
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_PHYS-1-2_004
تاریخ نمایه سازی: 15 آذر 1402
Abstract:
در این مقاله، نانوسیم های اکسید روی درون قالب نانوحفره ای آلومینای آندایز شده به روش آندایز دو مرحله ای سنتز شدند. ویژگی های فیزیکی نانوسیم های اکسید روی با استفاده از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی، طیف پراکندگی پرتو ایکس و طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس و همچنین تغییرات مقاومت الکتریکی با دما توسط سامانه طراحی شده، مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان می دهد که نانوسیم های اکسید روی دارای قطر ۶۶ نانومتر و طول یک تا شش میکرومتر است و طبق طیف سنجی های انجام شده، نانوسیم های اکسید روی دارای ساختار شش گوشی ورتزایت با خلوص بالا هستند. همچنین مقاومت الکتریکی نانوسیم ها با دما تغییر می کند، به طوری که با افزایش دما، جریان عبوری از نانوسیم های اکسید روی افزایش یافته، در حالی که مقاومت الکتریکی کاهش می یابد.
Keywords:
Authors
مهدی سودمند
استادیار، فیزیک، دانشگاه پیام نور
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :