تحلیل داده های پراش پرتوی X لایه نازک ZnO لایه نشانی شده به روش اسپری پیرولیز با استفاده از مدلهای بهبود یافته ویلیامسون هال

اکسید روی (ZnO) به شکل لایه نازک نانوساختار به روش اسپری پیرولیز روی زیرلایه شیشه ای لایه نشانی شد. با توجه با تصویر مقطع عرضی تهیه شده توسط میکروسکوپ الکترون روبشی نشر میدانی (FESEM) ضخامت لایه تولید شده ۱۱۵۰۰ تعین شد. الگوی پراش پرتوی XRD) X) بدست آمده از این لایه تشکیل ساختار بلوری ورتزیت شش وجهی ZnO را تایید میکند داده های بدست آمده از الگوی XRD لایه نازک ZnO جهت محاسبه اندازه بلورک و کرنش استفاده قرار گرفت با توجه به اهمیت خواص ساختاری لایه ZnO بر خصوصیات فیزیکی آن این مقادیر به روشهای شرر روش ویلیامسون هال و نسخه های بهبود یافته روش ویلیامسون هال محاسبه گردید و نتایج مورد مقایسه قرار گرفت. به این منظور نمودارهای مربوط به هر یک از روشهای ویلیامسون هال با استفاده از اطلاعات مربوط به قله های الگوی XRD رسم و برازش خطی صورت گرفت در نهایت مقادیر اندازه بلورک و کرنش حاصل از نمودار ویلیامسون هال دارای بالاترین ضریب تعیین در برازش خطی به ترتیب برابر ۷۱٫۷۹ و ۱۰۰×۱٫۶۱ بدست آمد.