توپوگرافی سطوح با استفاده میکروسکوپ نیروی اتمی در محیط هوا
Publish place: The 3th international conference of electrical engineering, computer, mechanics and new technologies related to artificial intelligence
Publish Year: 1403
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 72
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ENGTEC03_026
تاریخ نمایه سازی: 26 مرداد 1403
Abstract:
مقاله پیشرو به شبیه سازی میکروسکوپ نیروی اتمی در مود دامنه در محیط هوا می پردازد. حرکت ارتعاشیغیرخطی میکروکانتیلور در حضور نیروی نمونه پرداخته می شود و تاثیر ابعاد هندسی لایه پیزوالکتریک برروی پاسخ فرکانسی حرکت ارتعاشی مورد مطالعه قرار گرفته و توانایی میکروکانتیلور در توپوگرافی سطحنمونه در مود دامنه برای ناهمواری مستطیلی و گوهای نیز بررسی می شود و اثر مودهای بالا در دامنه بررسیمیگردد و با تقریب نیروی لنارد- جونز به کمک بسط تیلور در فواصل تعادلی مختلف دامنه حرکت ارتعاشی مورد مطالعه قرار می گیرد. و در نهایت به بررسی نتایج آزمایشگاهی حاصل از کار با AFM می پردازد.در این راستا فرکانس طبیعی میکروکانتیلور NSC۱۵ به دست آورده می شود و با نتایج شبیه سازی مورد مقایسه قرار می گیرد و منبع خطا نیز مورد بررسی قرار می گیرد. طبق نتایج حاصله از توپوگرافی سطح برای ناهمواری مستطیلی مقدار تاخیر زمانی در مود اول و دوم به ترتیب ۱/۶۵ و ۰/۹۹۴ و برای ناهمواری گوه ای ۰/۷۲ و ۰/۵۵ می باشد که نشان میدهد هرچه تغییرات ناهمواری سطح شدیدتر باشد، مقدار تاخیر زمانی در تشخیص تغییرات ناگهانی سطح بیشتر است و در مودهای بالاتر تاخیر زمانی کاهش می یابد.
Keywords:
Authors
فاطمه ایمانی
دانشگاه صنعتی امیرکبیر
